索莱能以晶圆AOI赋能半导体智慧工厂集成

来源:索莱能智能科技有限公司 · 江苏省 南京市 · 2026-07-21 01:57

摘要:介绍索莱能智能科技如何通过晶圆AOI检测设备与智慧工厂集成方案提升芯片封装测试效率。

在半导体后道工序中,随着晶圆级封装和系统级封装等先进封装技术的普及,检测环节的复杂性呈几何级数增长。微小的外观缺陷可能导致整批芯片的失效,因此,高效、精准的视觉检测设备成为晶圆厂和封测厂的标配。

索莱能智能科技紧跟行业趋势,自主研发了高性能的晶圆AOI检测设备。该设备采用高分辨率光学成像系统与先进的AI深度学习算法,能够快速识别晶圆表面微米级的缺陷,如划痕、崩边、异物及电路断路等。这不仅大幅提升了芯片外观检测的漏检率与误判率控制水平,也为后续的分选和测试提供了可靠的数据支撑。

与此同时,索莱能智能科技正加速向智慧工厂集成服务商转型。依托射频半自动三温探针台、高精组装测试线体等核心硬件,公司提供了一整套从硬件设备到软件控制系统的集成化解决方案。通过将AOI检测数据与系统无缝对接,帮助企业实现生产全流程的数字化与智能化管理。

作为国家级高新技术企业,索莱能智能科技在南京与苏州双城联动,深耕华东并辐射全国。未来,公司将继续以晶圆AOI和智慧工厂集成方案为抓手,赋能更多半导体制造企业实现转型升级,助力中国半导体产业链向智能化、高端化方向稳步迈进。