SLN-T300三温测试分选机
覆盖-55℃至150℃，专为射频芯片高低温测试设计。
SLN-T300型射频三温测试分选机是索莱能自主研发的高端半导体测试设备。系统支持-55℃至+150℃的宽温区精确控制，专为各类高频射频芯片、微波器件的常温及高低温测试而设计。设备采用先进的高速机械手搭载精密温控模块，温控精度达±1℃以内，能有效保障芯片在极端环境下的测试稳定性。其模块化设计支持多种Socket夹具快速更换，并具备卓越的抗电磁干扰性能，广泛应用于军工科研院所及高端芯片封装测试产线，助力射频半导体核心设备的国产化替代。
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